Innerhalb des Fertigungsprozesses elektronischer Baugruppen können automatische Inspektionssysteme ein Produkt zu einem bestimmten Zeitpunkt lediglich als gut/schlecht einstufen. Damit wird eine zuverlässige Funktionsweise für einen bestimmten Zeitraum unter definierten Einsatzbedingungen angenommen. Jedoch basiert diese Lebensdauerprognose nicht auf realen Messwerten der jeweiligen Baugruppe.
Im Forschungsprojekt SesiM werden Möglichkeiten untersucht, während des Fertigungsprozesses Indikatoren für die Zuverlässigkeit elektronischer Baugruppen zu ermitteln. Zudem wird der Einsatz von KI genutzt, um Lebensdauerprognosen zu treffen.
Sprecher
Jens Kokott
GÖPEL electronic GmbH
Jens Kokott studierte an der Friedrich-Schiller-Universität Jena Geräte- und Feinwerktechnik sowie an der Fernuniversität Hagen Marketing und Management. Seit 1992 ist er bei GÖPEL electronic GmbH als Bereichsleiter für automatische optische Inspektionssysteme tätig und seit 2016 für das Produktmanagement der AOI-Systeme verantwortlich.
Tags
- Test- und Inspektionslösungen (AOI, AXI, ICT)
- Prozess- und Anlagenprüfsysteme
- Industrie 4.0